Curso Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
El próximo mes de septiembre tendrá lugar la formación: Fundamentos y aplicaciones de la microscopía electrónica de barrido (SEM) y FIB (Focused Ion Beam) en … Continued
El próximo mes de septiembre tendrá lugar la formación: Fundamentos y aplicaciones de la microscopía electrónica de barrido (SEM) y FIB (Focused Ion Beam) en … Continued