Cintecx promueve la formación de sus investigadores en el manejo y habilitación del nuevo dispositivo Analizador XRF Olympus Vanta C. adquirido por el centro.
El pasado 4 de mayo, 14 investigadoras e investigadores de Cintecx tuvieron la oportunidad de aprender sobre el uso del Analizador XRF Olympus Vanta C, un dispositivo que permite medir la composición de los elementos a través de la técnica de fluorescencia de rayos X (XRF). Desde el magnesio hasta el uranio y desde partes por millón hasta estructuras de grandes dimensiones, el analizador portátil XRF permite resultados inmediatos in situ, con calidad de laboratorio, a través de la potente técnica no destructiva XRF.
Los investigadores pudieron conocer cómo montar e instalar el dispositivo, la interfaz de usuario y el software de control, cómo configurar y gestionar datos, cómo preparar la muestra, así como recibir indicaciones sobre cuidados y buenas prácticas. Con esta formación, los asistentes quedaron capacitados para el manejo y uso en modalidad de autoservicio del analizador adquirido.
