Incluye un detector de antimonio de indio FLIR (InSb) y captura imágenes completas de 640 × 512 a 520 fotogramas por segundo, o hasta 23.077 Hz con modo de ventana.
- Tamaño de píxel (pitch del detector): 25μm.
- Rango espectral: 3.0 – 5.0μm (MWIR).
- Sensibilidad térmica (NETD): ≤ 20mK (típico).
- Frecuencia de imagen (frame rate): desde 0,0015 Hz hasta 520 Hz (ventaneo ajustable)
- Rango opcional de temperatura: de 45°C a 600°C (ND1); 250°C a 2000°C (ND2); 500°C a 3000°C (ND3).
- Rango de temperatura estándar: de -20 a 300 °.
- Ópticas disponibles: 17 mm, 50 mm.
Aplicaciones
- Análisis térmico de procesos rápidos: Impacto y fractura de materiales. Procesos de combustión y detonación. Choques térmicos. Soldadura láser o por arco. Dinámica de fluidos calientes.
- Termografía de materiales: Ensayos mecánicos (fatiga, tracción, compresión). Mapeo de defectos internos (termografía activa). Caracterización de conductividad térmica.
- Investigación aeroespacial y automoción: Ensayos en túnel de viento. Transferencia térmica en superficies aerodinámicas. Comportamiento térmico de frenos, discos y pastillas. Análisis de baterías de vehículos eléctricos.
- Electrónica y microelectrónica: Mapeo térmico de circuitos (chips, PCBs). Identificación de puntos calientes (“hot spots”). Ensayos de estrés térmico. Diagnóstico de fallos en componentes de alta potencia
- Energía e industria: Turbinas de gas y vapor. Inspección de hornos, calderas y refractarios. Monitorización de procesos de fabricación que alcanzan >1000 °C (con filtros ND).
