El próximo mes de septiembre tendrá lugar la formación: Fundamentos y aplicaciones de la microscopía electrónica de barrido (SEM) y FIB (Focused Ion Beam) en CINTECX, de 12h de duración – 8 h de formación básica teórica + 4 h de aplicaciones y equipos.
Las inscripciones abrirán a principios de septiembre pero aconsejamos reservar ya las fechas:
– Formación básica teórica: 24 y 26 de septiembre y 1 y 3 de octubre, de 16:00 a 18:00.
– Formación en características y aplicaciones de equipos SEM básicos se impartirá una mañana de la semana del 7 al 11 de octubre (aún por definir).
🖋 Inscripciones: En el siguiente formulario de inscripción hasta el jueves 19 de septiembre.
⚠ Más información: cintecx.comunicacion@uvigo.es